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高端定制

系统集成-晶体检测系统

需求:

客户需要测试晶体入射和透射两种形式:入射角度15-78度及垂直入射,测量的角度为顺时针旋转15度到78度之间,重复定位精度要求优于0.01度

方案:

1、晶体旋转:同轴非同动,手动+电动控制;

2、晶体调整:采用卓立自主研发大晶体微调及锁止机构;

3、双Z轴控制系统保证晶体平稳运动;

4、手动5轴微调保证激光器入射角无误;

5、动平移系统可以缩短光程保证精度。